1.全自動(dòng)點(diǎn)火清洗工作程序:該程序能自動(dòng)數(shù)據(jù)清洗附著在點(diǎn)火操作系統(tǒng)上的各種殘留分析物質(zhì)，有效信息保護(hù)點(diǎn)火裝置和測試結(jié)果精度。

2.閃點(diǎn)測試儀的安全性：點(diǎn)火系統(tǒng)保護(hù)信息技術(shù)TM是MINIFLASH的固有設(shè)計(jì)；測試不同閃點(diǎn)只需要1-2ml樣品-無明火；連續(xù)封閉杯設(shè)計(jì)。 自動(dòng)數(shù)據(jù)爆炸成功檢測及供氣成本控制消火消煙閃點(diǎn)試驗(yàn)。

3. 閃點(diǎn)實(shí)驗(yàn)測試：閃點(diǎn)溫度測試儀應(yīng)符合astm d6450和D7094、SH/T 0768-2005（常閉閉式閃點(diǎn)計(jì)）。 試驗(yàn)結(jié)果與astm D93/ISO 2719、DIN51758、IP34、jis k2265 Binski-Martin法相當(dāng),與 ASTM D56、 ISO 13736、 IP170有良好的相關(guān)性。 還可以通過模擬ISO 3679和ISO 3680、astm d3828a/B、IP523/IP 524方法。過程油分析用燃料稀釋測量和快速篩選程序。

4.燃燒分析 Tm: 當(dāng)樣品中含有少量低濃度可燃化合物成分時(shí)，不會(huì)出現(xiàn)明顯的閃點(diǎn)。MINIFLASH TOUCH * 檢測技術(shù)非常小的火焰燃燒并以圖形教學(xué)方式可以顯示整個(gè)工程測量工作過程，它可以用來研究分析影響整個(gè)樣品被可燃化合物污染的程度。

5.Peltier peltier保護(hù)信息技術(shù)TM:grab ner Instruments開發(fā)的快速發(fā)展熱電加熱和冷卻系統(tǒng)技術(shù)企業(yè)可以通過加快進(jìn)行樣品分析測試通量，并延長網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的使用產(chǎn)品壽命。測試溫度擴(kuò)展至400℃以上，優(yōu)化了帕爾貼溫控原件的性能和壽命。